Wbudowana technologia OPTICHECK
Najnowocześniejsze urządzenia pomiarowe łączą w sobie sprawdzone zasady pomiaru i wydajną elektronikę, aby uzyskać szeroki zakres danych pomiarowych i informacji diagnostycznych. Wbudowana technologia OPTICHECK wykorzystuje funkcje urządzeń do konwersji kompleksowych danych układu pomiarowego na zaawansowane informacje diagnostyczne przeznaczone dla personelu. Wykraczają one poza szeroko zakrojoną diagnostykę urządzeń, testy wewnętrzne i miejscową weryfikację. Dzięki diagnostyce aplikacji powiązanej z zastosowaną zasadą pomiaru, pojawia się możliwość głębokiego wglądu w sam proces, a tym samym otwierają się możliwości monitorowania i obsługi zależnej od statusu urządzenia oraz optymalizacji technologii i systemów pomiarowych.
Funkcjonalny status urządzenia pomiarowego może mieć bezpośredni wpływ na niezawodność samego pomiaru, a tym samym na stabilność procesu i współczynnik dostępności systemu. Kompleksowa diagnostyka urządzenia, dzięki wbudowanej technologii OPTICHECK, umożliwia niezawodne wykrywanie przez samo urządzenie typowych błędów lub potencjalnych uszkodzeń czujnika albo przetwornika pomiarowego. Wbudowana technologia OPTICHECK zapewnia cykliczną autodiagnostykę urządzenia pomiarowego - niezawodny proces wewnętrznej kontroli stanu urządzenia w każdym momencie jego działania.
Cykliczna autodiagnostyka
Każde urządzenie pomiarowe z wbudowaną technologią OPTICHECK jest w stanie w dowolnym momencie wygenerować wiarygodny komunikat informujący o prawidłowym działaniu. Technologia ta wykorzystuje cykliczne procedury testowe porównujące bieżący stan urządzenia z jego początkowymi osiągami (w chwili dostawy). Oprócz ogólnego monitorowania sygnałów wyjściowych, zasilania i wewnętrznych obwodów, proces obejmuje także liczne testy funkcjonalne specyficzne dla danego rodzaju urządzenia.
Wykrywanie zwarcia w czujniku i w cewkach polowych
Wykrywanie uszkodzeń mechanicznych obudowy głowicy (rury) pomiarowej
Monitorowanie zużycia głowicy (rury) pomiarowej
np. monitorowanie korozji i ścierania elektrod
Monitorowanie dokładności pomiaru
np. poprzez sygnały testowe do cyklicznej kontroli elektroniki
Ciągłe monitorowanie zintegrowanych (wbudowanych) pomiarów temperatury i ciśnienia
Wykrywanie błędów oprogramowania i sprzętu
np. zakłócony sygnał piezoelektryczny
Kontrola wiarygodności mierzonej wartości
np. poprzez ciągłe monitorowanie zakresu pomiarowego
Ciągła ocena jakości sygnału
np. w celu zidentyfikowania niekorzystnych warunków instalacynych
Wbudowana technologia OPTICHECK i SIL
Wbudowana technologia OPTICHECK oferuje specyficzną wartość dodaną podczas zautomatyzowanych częściowych testów sprawdzających w aplikacjach związanych z bezpieczeństwem. W ramach częściowego testu sprawdzającego, umożliwia wykonanie pełnej wewnętrznej kontroli pozwalającej na 80-procentowe pokrycie pełnego testu sprawdzającego (PTC) i uzyskanie wskaźnika wykrywania awarii na poziomie ok. 95% - zapewniając tym samym bezpieczne działanie każdej funkcji istotnej z punktu widzenia bezpieczeństwa funkcjonalnego. Własność ta w pewnych warunkach może wydłużyć okres wymagany między pełnymi testami.
Miejscowa weryfikacja z wygenerowaniem raportu - poprzez naciśnięcie jednego przycisku
Z punktu widzenia operatora, cykliczne testy wewnętrzne widziane są w postaci znormalizowanych sygnałów statusowych zgodnych z normą NAMUR NE 107. Sygnały statusowe dają jasny i zrozumiały obraz bieżącej sytuacji urządzenia, zapewniając szybki przegląd błędów. Informacja o błędzie może być natychmiast sygnalizowana w pokoju kontrolnym za pomocą zdefiniowanego prądu błędu lub za pomocą sygnału błędu. W ten sposób operator uzyskuje informacje o stanie urządzeń pomiarowych w czasie rzeczywistym. W konsekwencji, na tej podstawie można przewidywać określone działania obsługowe. Wszystkie dane są także rejestrowane w urządzeniu pomiarowym i w razie wątpliwości są dostępne dla celów szczegółowej analizy.
Cykliczna autodiagnostyka w ramach wbudowanej technologii OPTICHECK stanowi również podstawę do szybkiej miejscowej weryfikacji urządzeń pomiarowych. Niezależnie od tego, czy stan oprogramowania i sprzętu ma być sprawdzany i dokumentowany rutynowo, czy w ramach rozwiązywania problemów, szczegółowe raporty weryfikacyjne dotyczące statusu oprzyrządowania mogą być generowane bezpośrednio na miejscu lub w sterowni. Urządzenia pomiarowe mogą być sprawdzane bez przerywania procesu - są gotowe do generowania raportów po naciśnięciu przycisku. W zależności od typu urządzenia, ta opcja weryfikacji może być realizowana bezprzewodowo przez Bluetooth za pomocą aplikacji OPTICHECK Mobile miejscowo, na działającym urządzeniu lub - z pokoju kontrolnego za pomocą sterownika programowego OPTICHECK DTM.
Wbudowana diagnostyka aplikacji
Oprócz kompleksowej diagnostyki samego urządzenia, wbudowana technologia OPTICHECK oferuje szeroki zakres diagnostyki aplikacji charakterystycznej dla określonego rodzaju urządzenia - zapewniającej wgląd w ogólne procesy i systemy. Dane pomiarowe i dane wewnętrzne urządzeń są zawsze dostępne dla operatorów w celu optymalizacji i kontroli procesów. Dane te dostarczają także informacji, które można wykorzystać do predykcyjnej (zapobiegawczej) obsługi systemu. Wbudowana technologia OPTICHECK wykorzystuje dane specyficzne dla danego rodzaju urządzenia do diagnostyki aplikacji.
Wykrywanie pęcherzyków gazu w cieczach
np. do kontroli procesu w aplikacjach z pożądaną lub niepożądaną obecnością powietrza (gazu)
Wykrywanie osadów w rurze pomiarowej
np. do pomiaru mediów tłuszczowych
Pomiar przewodności
np. do monitorowania jakości mierzonych mediów (woda pitna itp.)
Zmiany temperatury procesu i otoczenia
np. do wykrywania zmian w danym medium oraz skoków temperatury poza założonym ograniczeniem
Wykrywanie zmian ciśnienia procesowego
np. do wykrywania osadzania się sadzy na palnikach w piecach - w celu planowania remontów pieców
Wykrywanie fazy przejściowej dla pary, pary nasyconej, kondensatu
np. do zoptymalizowanego sterowania obiegami parowymi
Wykrywanie pustej rury
np. jako wskaźnik wadliwego zasilania lub wadliwych pomp
Zalety wbudowanej technologii OPTICHECK w skrócie:
Zapewnienie szeregu zintegrowanych, zaawansowanych funkcji diagnostycznych do niezawodnego wykrywania typowych uszkodzeń czujników i przetworników pomiarowych
Ciągła, cykliczna kontrola na okoliczność błędów sprzętu i oprogramowania
Autodiagnostyka stanu urządzeń pomiarowych bez przerywania procesu
Tworzenie istotnego zestawu danych diagnostycznych dla celów regularnej weryfikacji urządzeń w terenie lub weryfikacji w ramach szybkiego rozwiązywania problemów - bezpośrednio w miejscu instalacji urządzeń lub z poziomu pokoju kontrolnego
Generowanie raportów weryfikacyjnych po naciśnięciu przycisku, bez konieczności wyjmowania urządzeń
Podstawa obsługi zapobiegawczej: rozpoznawanie zużycia sprzętu i wymagań obsługowych
Liczne funkcje diagnostyczne aplikacji oferujące zwiększenie niezawodności procesu i ogólnej dostępności systemu
Możliwość uzyskania współczynnika awarii bezpiecznych (SFF) na poziomie 94-96%, jak również częściowego pokrycia testami sprawdzającymi na poziomie 80% w aplikacjach SIL
Rejestracja i wyświetlanie trendów w celu wczesnego wykrywania awarii (takich jak zanieczyszczenie elektrod) oraz zapewnienie szczegółowych informacji umożliwiających inżynierom obsługi podjęcie skutecznych działań zapobiegawczych